초음파 위상 어레이 검출기

HS PA 30- e는 복잡한 위상 배열 감지 요구 사항을 달성하도록 설계된 고급 단계 배열 검출기를 나타내며 검출 데이터를 실시간으로 분석 할 수 있습니다.
또한 2 세트의 TOFD 검사 채널을 수용하도록 구성 할 수있어 PAUT (Dual-Come-Compection Array TOFD)를 통해 통합 이미징이 가능합니다. 또한이 시스템은 단일 작업에서 최대 100mm 두께를 포함하는 용접 및 용접 검사를 수행 할 수 있습니다.

이 hspa 30- e 악기에는 다음과 같은 기능이 포함되어 있습니다.
● 초점 법칙은 다양한 PA 스캔 방법에 적응할 수 있으므로 동시 스캔 및 이미징 작업을 가능하게합니다.
● 듀얼 TOFD 채널 기능을 제공하여 PAUT (Dual Phased Array TOFD)를 사용하여 통합 이미징을 용이하게합니다.
● 오스테 나이트 스테인리스 스틸을 감지하기위한 듀얼 선형 배열 (DLA) 및 DMA (Dialded Array) 기능을 통합합니다.
● 피드백 제어와 함께 다중 채널 비디오 디스플레이 신호의 출력을 다양한 화면 디스플레이에 지원합니다.
● 이중 축 인코더 인터페이스는 2 차원 부식 C 스캐닝 및 휠 프로브 감지를 수용합니다.
● 고속 네트워크 전송을 용이하게하여 실시간 데이터 업로드 및 다운로드가 가능합니다.

hspa 30- e 위상 배열 결함 검출기는 아래 측면에서 사용할 수 있습니다.

플레이트, 파이프 및 용접과 같은 다양한 워크 피스에서 단계적 배열 검사를 수행하십시오.
2*32 요소로 구성된 듀얼 라인 어레이 구성이 장착되어있어 양면 배열 접근법을 사용하여 오스테 나이트 스테인리스 스틸을 능숙하게 감지 할 수 있습니다.
특히 복잡한 구조 나 재료를 포함하는 단계적 배열 검사에 적합합니다. 여기에는 PE 파이프 전기 도관, 복합 재료, tky 엉덩이 용접, 플랜지, 블레이드 및 기타 여러 시나리오와 같은 응용 프로그램이 포함되지만 국한되지는 않습니다.

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